IT设备PSU“一次故障”引发的PDU“二次故障”的分析与研究

本文刊于:《中国新通信》 2018年第1期

关键词:
PSU;PDU;PFCmos;空开;熔断时间

Keywords
PSU;PDU;PFCmos;Circuit Breaker;Fuse Time
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摘要
     本文从数据中心故障频率较高的IT设备PSU电源模块入手,分析PSU"一次故障"所导致的PDU空开分断的"二次故障"原因,并通过对PSU保险管,PDU空开的模拟实验,推导出PSU快熔或慢熔保险管与PDU空开动作特性匹配关系,依据测试结论,有效开展数据中心PSU电源模块的内部器件及PDU空开匹配优化,在现有条件下降低PDU总空开分断的故障概率,提升末端IT设备运行的可靠性。


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